Bültmann & Gerriets
Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability
von Mohammad Tehranipoor
Verlag: Springer US
Reihe: Frontiers in Electronic Testing Nr. 37
Gebundene Ausgabe
ISBN: 978-0-387-74746-0
Auflage: 2008
Erschienen am 10.12.2007
Sprache: Englisch
Format: 241 mm [H] x 160 mm [B] x 28 mm [T]
Gewicht: 799 Gramm
Umfang: 424 Seiten

Preis: 160,49 €
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Klappentext

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.


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