Bültmann & Gerriets
Random Graphs for Statistical Pattern Recognition
von David J Marchette
Verlag: Wiley
Reihe: Wiley Probability and Statisti Nr. 416
Gebundene Ausgabe
ISBN: 978-0-471-22176-0
Erschienen am 23.02.2004
Sprache: Englisch
Format: 241 mm [H] x 154 mm [B] x 24 mm [T]
Gewicht: 572 Gramm
Umfang: 264 Seiten

Preis: 174,50 €
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Klappentext
Biografische Anmerkung

Comprehensive coverage of two timely fields, enhanced with many references and real-world examples. This valuable resource presents A detailed look at the application of random graphs to pattern recognition Extensive examples of applications of the graphs studied, as well as the theoretical treatment of their properties A unique compilation of new topics in discrete mathematics, pattern recognition, and machine learning Integrated discussions of CCCD with neighborhood graphs to the classification problem



DAVID J. MARCHETTE, PhD, is a researcher at the Naval Surface Warfare Center in Dahlgren, Virginia, where he investigates computational statistics and pattern recognition, primarily as it applies to image processing, automatic target recognition, and computer security. He is also an adjunct professor at George Mason University and a lecturer at Johns Hopkins University.


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