Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar. (07/00)

SAMIHA MOURAD, PhD, is Professor of Electrical Engineering at Santa Clara University, Santa Clara, California. YERVANT ZORIAN, PhD, is Chief Technology Advisor at Logic Vision, Inc., San Jose, California.

DESIGN AND TEST.
Overview of Testing.
Defects, Failures, and Faults.
Design Representation.
VLSI Design Flow.
TEST FLOW.
Role of Simulation in Testing.
Automatic Test Pattern Generation.
Current Testing.
DESIGN FOR TESTABILITY.
Ad Hoc Test Techniques.
Scan-Path Design.
Boundary-Scan Testing.
Built-in Self-Test.
SPECIAL STRUCTURES.
Memory Testing.
Testing FPGAs and Microprocessors.
ADVANCED TOPICS.
Synthesis for Testability.
Testing SOCs.
Appendices.
Index.