Bültmann & Gerriets
Software Defect and Operational Profile Modeling
von Kai-Yuan Cai
Verlag: Springer New York
Reihe: International Series in Software Engineering Nr. 4
E-Book / PDF
Kopierschutz: PDF mit Wasserzeichen

Hinweis: Nach dem Checkout (Kasse) wird direkt ein Link zum Download bereitgestellt. Der Link kann dann auf PC, Smartphone oder E-Book-Reader ausgeführt werden.
E-Books können per PayPal bezahlt werden. Wenn Sie E-Books per Rechnung bezahlen möchten, kontaktieren Sie uns bitte.

ISBN: 978-1-4615-5593-3
Auflage: 1998
Erschienen am 06.12.2012
Sprache: Englisch
Umfang: 268 Seiten

Preis: 213,99 €

Inhaltsverzeichnis
Klappentext

Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Methods. 6. Neural Network Methods. 7. Software Defect Estimations Under Imperfect Debugging. 8. Software Operational Profile Modelling. 9. Modeling of Probably Zero-Defect Software. Index.



also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


andere Formate