Bültmann & Gerriets
VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
von Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Verlag: Elsevier Science
Taschenbuch
ISBN: 978-1-4933-0086-0
Erschienen am 21.07.2006
Sprache: Englisch
Umfang: 808 Seiten

Preis: 90,00 €
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Klappentext

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
. Most up-to-date coverage of design for testability.
. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books.
. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures.
. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available.
. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website."


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